نمایش منو
صفحه اصلی
جستجوی پیشرفته
فهرست کتابخانه ها
تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۷,۲۰ ثانیه یافت شد.
1. Yield and reliability in microwave circuit and system design
استناد
اطلاعات استناد دهی
BibTex (مخصوص کاربران)
RIS (مخصوص کاربران)
Endnote (مخصوص کاربران)
Refer (مخصوص کاربران)
Mark (مخصوص کتابخانه ها)
پدیدآورنده :
Meehan, Michael D.
کتابخانه:
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
(
تهران
)
موضوع :
، Microwave integrated circuits- Design and construction- Statistical methods,، Engineering design- Statistical methods,، Computer- aided design
رده :
»
1
«
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
پیشنهاد / گزارش اشکال
×
اخطار!
اطلاعات را با دقت وارد کنید
گزارش خطا
پیشنهاد